光是一種電磁波，當(dāng)光束在其前進(jìn)過程中遇到粒子時(shí)，會(huì)引起散射，散射光與光束的初始傳播方向形成角度θ。散射角的大小與粒徑有關(guān)，粒子越大，光散射的角度越小。粒子越小，散射光的角度θ越大。通過測量不同角度散射光的強(qiáng)度，可以得到樣品的粒度分布。

　　納米激光粒度儀通過少量樣品的檢測結(jié)果表達(dá)的粉體粒度分布。因此，采樣的要求是確保被測樣品具有足夠的代表性，否則不僅會(huì)得到錯(cuò)誤的結(jié)果，而且會(huì)降低被測樣品的質(zhì)量。頻繁的工作可能會(huì)產(chǎn)生誤導(dǎo)并產(chǎn)生嚴(yán)重的后果。因此，無論采用何種的激光粒度儀，科學(xué)規(guī)范的取樣方法都是獲得正確檢測結(jié)果的前提。納米激光粒度儀是目前粒度測量領(lǐng)域應(yīng)用較為廣泛的粒度分析儀之一，具有動(dòng)態(tài)范圍寬、測量速度快、操作方便等特點(diǎn)。它特別適用于測量具有較寬粒度分布的粉末和液滴。激光粒度儀作為一種性能優(yōu)良、應(yīng)用廣泛的粒度測量儀器，在其他粉體加工和應(yīng)用領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用。
 

　　隨著粉體技術(shù)的發(fā)展，對(duì)粒度儀性能的要求逐漸提高，尤其是對(duì)粒度儀測量范圍的要求越來越寬。測量的下限是幾百甚至幾十納米，測量的上限是1000甚至幾千微米。這對(duì)新型激光粒度儀的設(shè)計(jì)提出了很大的挑戰(zhàn)。

　　粒徑越小，散射光在360度空間分布中的強(qiáng)度差越小，當(dāng)粒徑達(dá)到一定限度時(shí)，強(qiáng)度差異會(huì)很小，幾乎難以區(qū)分，這是納米激光粒度儀的下限?？梢钥闯?，當(dāng)粒子足夠小，強(qiáng)度矢量圖無限接近圓（粒子無限接近中心）時(shí)，強(qiáng)度的差異很難區(qū)分。光學(xué)設(shè)計(jì)中的障礙和散射光的特性決定了傳統(tǒng)激光粒度儀的下限一般在0.2微米左右。